Chroma 19036為業(yè)界始創(chuàng)結(jié)合脈沖測(cè)試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測(cè)于單機(jī)的繞線組件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測(cè)。符合繞線組件測(cè)試需求且提供多通道掃描測(cè)試，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。

繞線組件的測(cè)試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕緣電阻測(cè)試、繞線組件脈沖測(cè)試(IWT)及直流電阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測(cè)試整合于19036繞線組件電氣安規(guī)掃描分析儀，可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試，讓繞線組件生產(chǎn)廠商及用戶(hù)在質(zhì)量驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠的測(cè)試質(zhì)量，能更有效率為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)。

線圈自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所引起，故在電氣安規(guī)測(cè)試制程中加入線圈層間短路測(cè)試，即可多組繞組一次掃描測(cè)試完成，進(jìn)一步的提升繞線組件質(zhì)量。

19036結(jié)合層間短路測(cè)試功能，具備6kV脈沖電壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)及波形二階微分偵測(cè)(Laplacian)等判定，提供線圈自體絕緣不良以及電感量確認(rèn)之有效的檢測(cè)方法。

19036專(zhuān)利設(shè)計(jì)四線直流電阻量測(cè)接口，包含Drive與Sense并符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的四線直流電阻量測(cè)與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭配16通道掃描盒最多可達(dá)到40通道掃描測(cè)試 。

19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常，解決繞線組件接觸不良而導(dǎo)致測(cè)試失敗的問(wèn)題。

馬達(dá)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī)綜合測(cè)試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測(cè)AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)于漏電流較大或大型設(shè)備電氣安規(guī)測(cè)試的使用者，高功率的耐壓測(cè)試與其他安規(guī)測(cè)試整合于一臺(tái)綜合測(cè)試儀，將為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來(lái)較大的效益，500VA的設(shè)計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。

耐壓測(cè)試 - Flashover Detection 電氣閃絡(luò)偵測(cè) (ARC)

19036與Chroma其他安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè) 為高壓測(cè)試不可或缺的檢視項(xiàng)目之一。

▲ AC耐壓測(cè)試中未發(fā)生電器閃絡(luò)示意圖

▲ AC耐壓測(cè)試中發(fā)生電器閃絡(luò)示意圖

脈沖測(cè)試

所謂的『繞線組件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，再藉由分析/比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之 等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線組件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線組件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺(jué)之部分放電等。 四種判定模式 波形面積比較 (AREA SIZE) 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA) 波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION) 波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN DETECTION)以二階微分演算，有效偵測(cè)出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。

▲ 脈沖測(cè)試波形的示意圖

DCR 直流電阻量測(cè)功能

• DCR量測(cè)(兩線/四線)
  Chroma 19036可選擇四線或兩線式直流電阻量測(cè)，新型式專(zhuān)利設(shè)計(jì)接口提供10通道四線直流電阻測(cè)量，對(duì)于馬達(dá)及變壓器等多繞組樣品提供高準(zhǔn)確度量測(cè)，其量測(cè)范圍從0.1mΩ ~500kΩ。
• 直流電阻平衡判定 (DCR Balance)
  三組繞線馬達(dá)的直流電阻不平衡時(shí)，易導(dǎo)致旋轉(zhuǎn)不平衡，長(zhǎng)期使用后會(huì)造成質(zhì)量不良。直流電阻平衡功能將繞組的較大最小值相減，若超過(guò)設(shè)定值范圍即為不良品，是馬達(dá)類(lèi)產(chǎn)品長(zhǎng)期可靠度測(cè)試的輔助工具。
• 溫度補(bǔ)償功能(Temp Compensation)
  當(dāng)量測(cè)較小的直流電阻值時(shí)，常會(huì)遇到溫差所造成的問(wèn)題。當(dāng)量測(cè)時(shí)的溫度不同時(shí)，量測(cè)的阻值也會(huì)不同。因此19036加入了溫度補(bǔ)償功能 (Temp Compensation)，經(jīng)由溫度系數(shù)的轉(zhuǎn)換，將直流電阻換算為標(biāo)準(zhǔn)溫度下量測(cè)的值，減少溫度差異造成的影響。

接觸檢查功能

高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC)
當(dāng)測(cè)試回路發(fā)生開(kāi)路時(shí)，不良品可能會(huì)被誤判為良品，導(dǎo)致測(cè)試的結(jié)果無(wú)效。若測(cè)試回路發(fā)生短路時(shí)，可于耐壓測(cè)試前提早得知，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害。高速接觸檢查可更快速掃描待測(cè)物在回路上的接觸是否正常，讓耐壓測(cè)試前的接觸檢查比以往更快完成。

副步驟功能(SUB-Step)

部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進(jìn)行耐壓測(cè)試以提升生產(chǎn)檢測(cè)速度，但并聯(lián)測(cè)試時(shí)，無(wú)法正確設(shè)定電流上下限值，導(dǎo)致不良品流出; 以及不良品需至后測(cè)站另加進(jìn)行測(cè)試，增加站數(shù)及成本。19036系列提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測(cè)試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試于主測(cè)項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物，可達(dá)到高產(chǎn)速與高檢測(cè)質(zhì)量之優(yōu)化。

例：
Step 1: AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1: AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2: AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3: AC Hipot / pin1 to pin7

人體接地保護(hù)功能(GFI)

Chroma 19036擁有GFI人體保護(hù)功能來(lái)保護(hù)測(cè)試人員。在突發(fā)人體感電的情形下，GFI能夠立即切斷儀器之電壓輸出，保護(hù)操作員不受電氣傷害。GFI功能以偵測(cè)從地端(Earth GND)流回之電流(Ioperator)與LOW端電流(Idevice)，比較后若大于0.5mA，則會(huì)在立即切斷電壓輸出。

▲ 測(cè)試多個(gè)變壓器的接線示意圖

▲ 人體接地保護(hù)功能的示意圖

旋轉(zhuǎn)電機(jī)組件 - △ / Y馬達(dá)、風(fēng)扇、轉(zhuǎn)子/ 定子

從電動(dòng)車(chē)主馬達(dá)、服務(wù)器馬達(dá)、揚(yáng)升馬達(dá)與風(fēng)扇等所有旋轉(zhuǎn)電機(jī)類(lèi)產(chǎn)品，其制程中會(huì)進(jìn)行脈沖測(cè)試 、耐壓測(cè)試及直流阻抗量測(cè)等測(cè)試來(lái)確保產(chǎn)品質(zhì)量。并參考JB/T 7080國(guó)標(biāo)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行測(cè)試。19036之直流電阻量測(cè)上可進(jìn)行四線式量測(cè)，單端點(diǎn)包含Drive和Sense共10組獨(dú)立通道讓您可以一次掃描測(cè)試三顆待測(cè)物，提高生產(chǎn)產(chǎn)能。每個(gè)通道可分別設(shè)定為高壓輸出/參考端/關(guān)閉。

Y型馬達(dá)
Y型馬達(dá)測(cè)試項(xiàng)目為：

• HSCC / OSC
• DCR Test
• Impulse Test
• Hi-pot –Sub step test

△與Y型馬達(dá)繞組
針對(duì)△型與Y型馬達(dá)繞組(無(wú)中心抽頭式)無(wú)法直接進(jìn)行直流電阻量測(cè)的問(wèn)題，Chroma 19036具有馬達(dá)繞線電阻計(jì)算功能， 經(jīng)計(jì)算后得到R1, R2, R3的數(shù)值。

40通道掃描測(cè)試
A190359掃描儀提供16個(gè)測(cè)試通道，每個(gè)通道都可設(shè)定為H(高壓輸出)，L(參考點(diǎn))或是Off(不設(shè)定)。19036與A190359組合可應(yīng)用于多PIN或少量多樣型之待測(cè)物以及cell單元式產(chǎn)線，單站完成所有測(cè)試。

▲ Δ型馬達(dá)接線范例	▲ Y型馬達(dá)接線范例
	▲ 19036與四線式擴(kuò)充掃描盒x2的接線范例

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產(chǎn)品詢(xún)價(jià)

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型號(hào)

敘述

19036

繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

A131002

4端BNC對(duì)4端BNC測(cè)試線

A165015

溫度測(cè)棒PT100

A190359

16HV 高壓掃瞄治具

A190360

19036 19"機(jī)框耳架

A190361

19036 資料收集軟體

A190362

16HV 四線式高壓掃瞄治具

A190363

雙十字高壓香蕉頭+測(cè)試夾

A190364

雙十字高壓香蕉頭+截平頭(1.5M)

A190365

雙十字高壓香蕉頭+截平頭(3M)

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